스마트 폰 LDC 파손 모사를 위해 개발된 해석 모델의 개선 본문 Conference 한국최적설계학회 2015년도 정기학술대회 Author 오현석, 김지선, 박정호, 윤병동, 정병창 Date 2015-02-10 Presentation Type 포스터 목록 이전글Degradation Model of Insulated Gate Bipolar Transistor for Fault Prognostics of Motor Drive System 19.04.11 다음글고장 및 센서링 데이터를 이용한 수명 모델의 통계적 보정 15.02.10
