Domestic 다층 리커런스 플롯을 활용한 전이학습 기반 가공 품질 모니터링 장치 및 방법
본문
- Patent Scope
- Domestic
- Related area
- Prognostics and Health Management
- Inventors
- 윤병동, 안성훈, 김윤한, 김태겸
- Classification
- Patent Registration
- Patent No.
- 10-2324979
- Date
- 2021-11-05
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